產(chǎn)品中心Products 當(dāng)前位置：首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 文物檢測(cè) > X射線文物檢測(cè)CT
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文物CT檢測(cè)掃描分析系統(tǒng)時(shí)間：2023-09-14型號(hào)：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家瀏覽量：20463文物CT檢測(cè)掃描分析系統(tǒng)主要分為高能量CT和微焦點(diǎn)CT。CT是基于計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù)，對(duì)文物進(jìn)行2D，3D檢測(cè)。 其應(yīng)用主要有六個(gè)方面： ●對(duì)文物內(nèi)部結(jié)構(gòu)及形貌進(jìn)行無(wú)損掃描并分析； ●對(duì)文物的起源，制作工藝、產(chǎn)地和用途提供重要信息； ●對(duì)文物的內(nèi)部結(jié)構(gòu)及尺寸進(jìn)行二維、三維的測(cè)量； ●對(duì)文物的穿孔內(nèi)壁，鑲嵌加工痕跡數(shù)據(jù)分析，及數(shù)據(jù)庫(kù)的建立； ●高精度獲取與解讀文物的三維信息，并可實(shí)現(xiàn)逆向工程
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